厂商：美国FEI
型号：Talos F200S
价格：900万
功能：用于材料样品的二维和三维高分辨成像，元素空间分析
主要配件和指标：
1. 电子显微镜基本单元：加速电压：最高200kV，最低：0kV，信息分辨率：≤0.12nm，超稳定肖特基场发射电子枪；
2. 样品杆：单倾样品杆，CompuStage单倾样品杆，倾斜观察样品；低背景双倾样品杆 ，最大倾斜角度：阿尔法角正负40度 /贝塔角正负 30度；
3. STEM附件：明场以及高角环形暗场探头（HAADF），其中STEM分辨率 0.16nm；
4. 能谱：双SSD能谱探头，最大输出计数率：不低于500kcps，有效探测器面积：≥30 mm²；
5. 相机：像素感应尺寸：4k x4K像素，像素大小：≥14um x14um，在4k x 4k 的全幅分辨率下成像速率不低于25 fps；
6. 其他：具有三维重构功能，配备超薄切片机和冷冻样品杆。
主要操作模式：
电子衍射：选区衍射、微束衍射、汇聚束衍射
成像：质厚衬度像、衍射衬度像、相位衬度像、STEM像
成分：微区EDS点、线、面元素分析
表征项目范围：
微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构、结构缺陷、晶界结构和组成等，配备冷冻样品杆，可对辐照敏感样品进行分析表征；
应用：
陶瓷粘土矿物组成及颗粒组成，金属金相分析、断口分析，高分子材料和纳米结构形态观察和元素分析，广泛应用于纳米技术和半导体技术。