X射线衍射仪　X-ray Diffractometer

型 号：D8 Advance

厂 商：德国　Bruker

价 格：154.5万元

技术指标：Cu靶，扫描方式θ/θ型，精度0.0001 度，光学部件自动识别，狭缝宽度0.1mm、0.2mm、0.6mm、1mm、2mm，探测器支持零维模式扫描（点探测器）、一维模式扫描（阵列探测器），具有粉末和薄膜测试附件。

应用：物相定量分析；无标样晶粒大小分析及微观应力分析；粉末数据指标化、结构精修、从头结构解析以及无标样定量分析；晶粒大小测量、晶胞参数测量、结晶化度、薄膜厚度、表面粗糙度测量等功能。